UNDIP, Semarang (09/04) – UNDIP kini memiliki XPS dan TEM, dua alat mikroskopi canggih yang mampu menganalisis material hingga skala nano. Kehadiran alat ini memperkuat Laboratorium Terpadu sebagai pusat riset unggulan di Indonesia. Sebagai universitas riset yang unggul, Universitas Diponegoro (UNDIP) terus mengeksplorasi berbagai bidang ilmu termasuk sains, teknologi, hingga lingkungan. Salah satu wujud komitmen tersebut adalah dengan hadirnya UPT Laboratorium Terpadu UNDIP, yang mendukung riset melalui layanan penelitian, pengujian, serta analisis sampel. UPT Laboratorium Terpadu UNDIP juga menyediakan banyak layanan pengujian sampel dengan fasilitas peralatan uji yang canggih dan mutakhir yang dapat dimanfaatkan oleh civitas academica UNDIP maupun pihak eksternal.
UPT Laboratorium Terpadu UNDIP telah terakreditasi oleh KAN-BSN sebagai Laboratorium Penguji (LP-1465-IDN) dari tahun 2021 hingga tahun 2026. Kini, UPT Laboratorium Terpadu UNDIP mendatangkan beberapa alat uji terbaru dengan teknologi mutakhir, yakni alat uji XPS (X-Ray Photoelectron Spectroscope) dan TEM (Transmission Electron Microscope). Alat-alat ini tergolong limited edition karena hingga saat ini hanya terdapat 3 unit di Indonesia.
Kepala UPT Laboratorium Terpadu, Prof. Dr. Istadi, S.T., M.T. yang merupakan dosen Teknik Kimia Fakultas Teknik UNDIP menyampaikan bahwa saat ini, terdapat tiga unit alat uji XPS di Indonesia, masing-masing berada di Badan Riset dan Inovasi Nasional (BRIN), Universitas Indonesia, dan UNDIP. Sementara itu, alat uji TEM dengan spesifikasi dan fasilitas tertinggi tersedia di UNDIP.
XPS atau X-Ray Photoelectron Spectroscope merupakan alat uji yang mampu menganalisis secara kualitatif dan kuantitatif suatu senyawa yang ada di dalam suatu material yang memanfaatkan efek fotolistrik untuk menganalisis kandungan dan komposisi atomik unsur suatu bahan menggunakan prinsip binding energy secara molekular. Penggunaan alat uji XPS memungkinkan analisis komposisi atomik suatu material atau fasa pada material yang lebih akurat. Misalnya ketika akan dilakukan uji komposisi sebuah logam besi, XPS digunakan untuk menentukan tingkat kemurniannya serta mengidentifikasi apakah material tersebut tergolong sebagai besi elemental atau besi oksida. Identifikasi kualitatif dan kuantitatif (komposisi % atomik) fasa senyawa juga dapat diukur secara lebih akurat dan lebih nyata, misalnya bisa membedakan antara Fe, FeO, Fe₂O₃, atau Fe3O4. Dengan teknologi XPS, pengukuran senyawa yang terdapat dalam material dapat dilakukan dengan presisi tinggi.
Sebelumnya, analisis senyawa dalam material dapat dilakukan menggunakan mesin XRD (X-Ray Diffraction), dengan syarat material harus berbentuk kristal. Keunggulan alat uji XPS adalah kemampuannya dalam menganalisis baik material kristal maupun non-kristal dengan lebih mendetail. Hal ini memungkinkan eksplorasi struktur senyawa dalam material hingga ke tingkat molekular.
Alat uji TEM atau Transmission Electron Microscope merupakan mikroskop yang mampu menganalisis material hingga skala nano. Dengan TEM, peneliti dapat mengamati struktur material hingga ukuran 0,1 nanometer. “Nano itu 109, kalau 1 meter 109 nano. Kita bisa bayangkan 1 meter dibagi 109. Jadi sekecil apa, kita bisa melihat sampai 0,1 nano menggunakan TEM. Alat ini bisa mengukur dan menampilkan ukuran lattice kristal hingga ukuran 0.14 nm dengan metode High Resolution TEM (HR-TEM) menggunakan teknologi canggih dari TEM,” ucap Prof. Istadi.
Sebelum adanya alat uji TEM, praktisi laboratorium menggunakan alat uji SEM (Scanning Electron Microscope) yang mampu melihat suatu material sampai ukuran 100 mikro meter. Keunggulan TEM terletak pada kemampuannya dalam mengamati struktur material pada skala nano, memungkinkan identifikasi bentuk dan ukuran dengan lebih detail. Material yang diuji bisa berupa membran, thin film, advanced material, namun demikian untuk life science (biologi) belum support alat preparasi sampelnya, dan lain-lain.
Saat ini, UNDIP memiliki dua analis atau teknisi yang terlatih khusus dalam mengoperasikan alat uji XPS dan TEM. Mereka telah menjalani pelatihan intensif selama satu minggu di perusahaan produsen alat uji di Jepang, yang kemudian dilanjutkan dengan pelatihan lanjutan di Indonesia. Dalam proses uji sampel, terdapat perbedaan antara kedua alat uji tersebut. Dalam satu hari, alat uji XPS dapat digunakan untuk menguji sampel paling banyak dua sampel uji, karena proses analisis datanya yang butuh waktu. Alat uji XPS memerlukan proses pengkondisian ultra high vakum yang membutuhkan waktu semalaman sebelum bisa dipakai keesokan harinya. Pengujian sampel dengan TEM berlangsung cepat, tetapi persiapan sampelnya memerlukan waktu lebih lama. Misalnya, sampel uji harus dipotong hingga sangat tipis agar elektron dapat menembus materialnya dan menghasilkan citra yang akurat.
Dengan bertambahnya alat uji yang canggih, UPT Laboratorium Terpadu Undip terus berkomitmen untuk mendukung capaian UNDIP. Prof Istadi berkata, “Kita siap mendukung para peneliti di UNDIP yang kebetulan bidang ilmunya membutuhkan alat yang tersedia di Laboratorium Terpadu, dan juga bekerja sama dengan LPPM untuk pencapaian indikator kinerja dari riset. Kita full support untuk mencapai riset yang canggih dan mendorong publikasi di jurnal ke level yang paling tinggi serta implementasi hasil teknologi di masyarakat dan industri.”
Informasi mengenai Laboratorium Terpadu UNDIP selengkapnya dimuat pada laman resmi https://labterpadu.undip.ac.id. Selain itu, UPT Laboratorium Terpadu UNDIP juga memiliki fasilitas sistem informasi layanan laboratorium bagi peneliti dari UNDIP maupun di luar UNDIP yang membutuhkan layanan pengujian sampel di laman https://simlab.undip.id seperti panduan analisis sampel uji, tarif, pendaftaran pengujian sampel, verifikasi pembayaran, tracking progress analisis, penyerahan Sertifikat Hasil Uji (SHU), dan sebagainya. UPT Laboratorium Terpadu Undip siap melayani, ‘UNDIP Bermartabat, UNDIP Bermanfaat.’ (Titis/Hanang – Media Relations)
